发明授权
CN100485404C 试验装置及测试模块
失效 - 权利终止
- 专利标题: 试验装置及测试模块
- 专利标题(英): Test apparatus and test module
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申请号: CN200480013886.8申请日: 2004-05-21
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公开(公告)号: CN100485404C公开(公告)日: 2009-05-06
- 发明人: 鹫津信栄
- 申请人: 爱德万测试株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 爱德万测试株式会社
- 当前专利权人: 爱德万测试株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司
- 代理商 寿宁
- 优先权: 143725/2003 2003.05.21 JP
- 国际申请: PCT/JP2004/006936 2004.05.21
- 国际公布: WO2004/104607 JA 2004.12.02
- 进入国家日期: 2005-11-21
- 主分类号: G01R31/317
- IPC分类号: G01R31/317
摘要:
本发明的目的是提供一种试验装置,为一种对具有用于接收信号的多个元件终端的电子元件进行试验的试验装置,包括:将表示应赋予元件终端的信号的动作的动作条件,与该元件终端建立对应并输出的动作条件输出部、将电子元件的测试所使用的测试信号,根据动作条件所示的动作而赋予电子元件的测试模块;测试模块包括:分别与某个元件终端电气连接并将测试信号分别供给到该元件终端的多个装置终端、用于存储表示各个元件终端和与该元件终端连接的装置终端的对应的终端对应信息的终端对应存储部、将与对应动作条件的元件终端连接的装置终端,根据终端对应信息进行选择,并对选择了的装置终端设定动作条件的动作条件设定部。
公开/授权文献
- CN1791803A 试验装置及测试模块 公开/授权日:2006-06-21