发明授权
CN100492037C 电子部件处理设备以及电子部件温度控制方法
失效 - 权利终止
- 专利标题： 电子部件处理设备以及电子部件温度控制方法
- 专利标题（英）： Apparatus for handling electronic components and method for controlling temperature of electronic components
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申请号： CN02813838.4申请日： 2002-07-05
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公开(公告)号： CN100492037C公开(公告)日： 2009-05-27
- 发明人: 山下毅 , 五十岚德幸
- 申请人： 株式会社爱德万测试
- 申请人地址： 日本东京
- 专利权人： 株式会社爱德万测试
- 当前专利权人： 株式会社爱德万测试
- 当前专利权人地址： 日本东京
- 代理机构： 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 付建军
- 优先权： 212498/2001 2001.07.12 JP
- 国际申请： PCT/JP2002/006851 2002.07.05
- 国际公布： WO2003/007007 JA 2003.01.23
- 进入国家日期： 2004-01-09
- 主分类号： G01R31/26
- IPC分类号： G01R31/26
摘要：
一种处理器(1)具有用于内部容纳推动器(30)的散热片(40)的内室(104)，用于控制内室(104)中环境温度的温度控制装置(91)，用于内部容纳在测试头(5)和内室(104)上的插槽的测试室(102)，以及温度控制设备(90)用于控制测试室(102)中环境的温度。根据该处理器(1)，能有效地进行温度控制，以便电子部件的温度在用于预定测试所设置的温度附近。
公开/授权文献
- CN1526076A 电子部件处理设备以及电子部件温度控制方法 公开/授权日：2004-09-01