- 专利标题: 对微阵列和其他微型装置进行高浓度点沉积的点样装置及方法
- 专利标题(英): Spotting device and method for high concentration spot deposition on microarrays and other mini devices
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申请号: CN200580023025.2申请日: 2005-07-06
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公开(公告)号: CN100496749C公开(公告)日: 2009-06-10
- 发明人: 布鲁斯·盖尔 , 大卫·章彦 , 大卫·米什卡
- 申请人: 犹他大学研究基金会
- 申请人地址: 美国犹他州
- 专利权人: 犹他大学研究基金会
- 当前专利权人: 犹他大学研究基金会
- 当前专利权人地址: 美国犹他州
- 代理机构: 南京经纬专利商标代理有限公司
- 代理商 楼高潮
- 优先权: 60/585,697 2004.07.06 US
- 国际申请: PCT/US2005/023895 2005.07.06
- 国际公布: WO2006/014460 EN 2006.02.09
- 进入国家日期: 2007-01-08
- 主分类号: B01L3/02
- IPC分类号: B01L3/02 ; G01D15/00
摘要:
本发明公开了一种制作微阵列、生物芯片、生物传感器和细胞培养物的点样装置和方法。该点样装置可以用于在微阵列片、芯片或其他基片上沉积高浓度的蛋白质或其他物质。它还可用于在相同点上实施多种化学步骤。该点样器通过在包埋预定物质的点面上引入流动溶液直至表面完全饱和,增加了每个点上物质的表面浓度。该点样器通过微流体管和微流体孔在分离的基片上点积蛋白质、其他生物分子、或化学制剂。每个孔都是含有进口管和出口管的流动通道的一部分。当该点样器一接触基片,在孔和基片之间形成密封。相同的或不同的物质可以流过每个孔。大量的孔组成点样器。由于该点样器可以放置在基片上延长一段时间,其特别对在基片上沉积蛋白质有用。
公开/授权文献
- CN1980742A 对微阵列和其他微型装置进行高浓度点沉积的点样装置及方法 公开/授权日:2007-06-13
IPC分类: