发明授权
- 专利标题: 一种易于测量TFT特性的阵列基板
- 专利标题(英): Array substrate tending measuring TFT features
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申请号: CN200810033891.5申请日: 2008-02-26
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公开(公告)号: CN100578328C公开(公告)日: 2010-01-06
- 发明人: 杨海鹏 , 吴宾宾
- 申请人: 上海广电光电子有限公司
- 申请人地址: 上海市徐汇区宜山路757号三楼
- 专利权人: 上海广电光电子有限公司
- 当前专利权人: 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市徐汇区宜山路757号三楼
- 代理机构: 上海申汇专利代理有限公司
- 代理商 白璧华
- 主分类号: G02F1/1362
- IPC分类号: G02F1/1362 ; G02F1/1343 ; G02F1/13 ; G01R31/00
摘要:
本发明公开了一种易于测量TFT特性的阵列基板,包括扫描线、数据线、绝缘层、像素电极以及封框胶,在阵列基板显示区的四个角各设置有一个附加像素电极,并且分别设置有与之相对应连接的两根附加扫描线和两根附加数据线,在像素电极的一侧还设置有附加测量配线,附加像素电极向附加测量配线的一侧设置有连接凸块,该连接凸块将与所述附加测量配线重叠,测量时,附加像素电极与所述附加测量配线熔接在一起;所有6根附加配线都设置有与之电连接的伸出于封框胶之外的测量块。使用该阵列基板可以在不拆解面板的前提下,直接用探针通过与附加配线电接触的ITO测量块直接对面板显示区四角的附加像素的TFT特性进行测量,可以给与合适的背光源照射并保留液晶盒的存在从而提高测量结果的可信度。
公开/授权文献
- CN101256326A 一种易于测量TFT特性的阵列基板 公开/授权日:2008-09-03
IPC分类: