一种SON型金属氧化物半导体场效应管器件的制备方法
摘要:
本发明公开了一种SON型金属氧化物半导体场效应管器件的制备方法,其包含步骤:利用温度为200~250℃的氖离子二次不同能量大束流低温注入,先形成两层气泡带,进行退火处理后在有源区下面形成空洞层;去除浅槽隔离(STI)上的氮化硅侧墙,用常规CMOS工艺制作MOSFET器件。本发明由于采用了低剂量氖离子注入,能产生更高密度的气泡,并采取两次不同能量低温注入形成两层气泡带,退火后这两层气泡带相互作用合并成为高致密度单层空洞,由此形成带有散热通道的超浅结SON器件结构,其工艺简单,成本低廉,其大部分步骤采用常规CMOS工艺完成,便于大规模集成电路工业生产,并且降低了生产成本。
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