发明授权
CN100592518C 一种半导体器件
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种半导体器件
- 专利标题(英): Semiconductor device
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申请号: CN200910000724.5申请日: 2009-01-08
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公开(公告)号: CN100592518C公开(公告)日: 2010-02-24
- 发明人: 陈星弼
- 申请人: 电子科技大学
- 申请人地址: 四川省成都市建设北路二段四号
- 专利权人: 电子科技大学
- 当前专利权人: 电子科技大学
- 当前专利权人地址: 四川省成都市建设北路二段四号
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 李镇江
- 主分类号: H01L27/088
- IPC分类号: H01L27/088
摘要:
本发明可将两个端电压相近的高压横向器件做在表面相邻的区域上。两个器件都有与衬底导电类型相反而紧贴于衬底的区。在电压不完全相同的区之间均有一个隔离区。隔离区中的半导体区在全耗尽时向衬底发出的、有效的电通量密度之值介于其两旁的两器件耐压区的有效的电通量密度之值之间。隔离区中两旁至少都有与衬底导电类型相反的区。附图表示在表面相邻的区域上制作端电压相近的低侧高压nMOST和高压nMOST器件M1。
公开/授权文献
- CN101442052A 一种半导体器件 公开/授权日:2009-05-27
IPC分类: