Invention Grant
CN100595890C 半导体装置的制法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 半导体装置的制法
- Patent Title (English): Method for manufacturing semiconductor device
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Application No.: CN200610068103.7Application Date: 2006-03-21
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Publication No.: CN100595890CPublication Date: 2010-03-24
- Inventor: 田中秀一
- Applicant: 精工爱普生株式会社
- Applicant Address: 日本东京
- Assignee: 精工爱普生株式会社
- Current Assignee: 精工爱普生株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京
- Agency: 中科专利商标代理有限责任公司
- Agent 汪惠民
- Priority: 2005-084583 2005.03.23 JP; 2005-084584 2005.03.23 JP; 2005-344647 2005.11.29 JP
- Main IPC: H01L21/28
- IPC: H01L21/28 ; H01L21/50
Abstract:
本发明提供一种谋求提高半导体装置的生产率的半导体装置的制造方法。在保护膜(4)上,涂抹作为形成突起体(5)的感光性树脂的丙烯酸树脂来形成树脂层。在该树脂层上将具有开口部的掩模定位配置在规定的位置上,进而,通过在掩模上照射紫外线,使在开口部露出的树脂层的一部分曝光。通过紫外线固化树脂,形成上面为平面的圆柱形状突起体(5b)。接着,将紫外线(11)照射在突起体(5b)上,来加热突起体(5b),使形成突起体(5b)的丙烯酸树脂熔解。由于在熔解的树脂上产生表面张力,所以平面的突起体(5b)的上面变形为光滑的曲面。因此,由突起体(5b)形成近似半球形状的突起体(5)。
Public/Granted literature
- CN1838383A 半导体装置的制法、半导体装置的安装方法及安装结构 Public/Granted day:2006-09-27
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IPC分类: