- 专利标题: 控制采样设备的采样频率和采样相位的装置和方法
- 专利标题(英): Apparatus for and method of controlling sampling frequency and sampling phase of a sampling device
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申请号: CN200580012191.2申请日: 2005-04-08
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公开(公告)号: CN101002419B公开(公告)日: 2011-05-04
- 发明人: J·朱 , R·W·奇塔 , S·M·洛珀斯托 , D·A·维尔明 , S·陈
- 申请人: 上海奇普科技有限公司
- 申请人地址: 上海市虹漕路461号软件大厦4楼
- 专利权人: 上海奇普科技有限公司
- 当前专利权人: 上海高清数字科技产业有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市虹漕路461号软件大厦4楼
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 陈炜
- 优先权: 60/561,085 2004.04.09 US; 60/601,026 2004.08.12 US
- 国际申请: PCT/US2005/011909 2005.04.08
- 国际公布: WO2005/099399 EN 2005.10.27
- 进入国家日期: 2006-10-09
- 主分类号: H04L7/00
- IPC分类号: H04L7/00
摘要:
一种从耦合到采样设备的均衡器生成的值控制该采样设备的采样频率和采样相位的方法,所述方法包括:生成由均衡器导出的值的复数表示的步骤,以及生成来自该均衡器的输出的判决表示的步骤。将该复数表示与该判决表示相关以获得采样误差估计。使用该采样误差估计来调整采样设备的采样频率和采样相位。
公开/授权文献
- CN101002419A 控制采样设备的采样频率和采样相位的装置和方法 公开/授权日:2007-07-18