- 专利标题: 一种用于集成电路的BGA型测试座和老化座
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申请号: CN200680002362.8申请日: 2006-01-09
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公开(公告)号: CN101103451B公开(公告)日: 2012-02-22
- 发明人: 黄东源
- 申请人: 黄东源
- 申请人地址: 韩国首尔市江南区
- 专利权人: 黄东源
- 当前专利权人: 黄东源
- 当前专利权人地址: 韩国首尔市江南区
- 代理机构: 北京路浩知识产权代理有限公司
- 代理商 谢顺星
- 优先权: 10-2005-0003966 2005.01.15 KR
- 国际申请: PCT/KR2006/000076 2006.01.09
- 国际公布: WO2006/075855 EN 2006.07.20
- 进入国家日期: 2007-07-13
- 主分类号: H01L21/66
- IPC分类号: H01L21/66
摘要:
本发明公开的是一种用于集成电路的BGA(球栅阵列)型测试座和老化座。插座包括连接、插座体、盖子、滑动部和集成电路固定器;插座体具有用来接受连接的连接口和使插座体可靠地固定在印刷电路板上的定位插脚;用来接受连接体的制动器和引导连接导向的导线引导设置在插座体的底部,以及滑动部和盖子位于插座体的上部;盖子包括用来移动滑动部的固定旋转插脚、移开凸轮和闭合凸轮;滑动部包括当盖子压下来时连接移开凸轮的移开凸轮连接部,和当闭合凸轮向上移动时连接闭合凸轮的闭合凸轮连接部;集成电路固定器通过固定旋转插脚向下移动,从而压紧集成电路。
公开/授权文献
- CN101103451A 一种用于集成电路的BGA型测试座和老化座 公开/授权日:2008-01-09
IPC分类: