发明公开
- 专利标题: 一种故障诊断测试项的规划方法
- 专利标题(英): Fault diagnosis testing layout method
-
申请号: CN200610161016.6申请日: 2006-12-04
-
公开(公告)号: CN101137164A公开(公告)日: 2008-03-05
- 发明人: 陈刚 , 聂丹 , 李福军 , 陈凯
- 申请人: 中兴通讯股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦A座5层
- 专利权人: 中兴通讯股份有限公司
- 当前专利权人: 国家电网公司,国网河南省电力公司洛阳供电公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦A座5层
- 代理机构: 信息产业部电子专利中心
- 代理商 郭禾
- 主分类号: H04Q7/34
- IPC分类号: H04Q7/34 ; H04Q7/30 ; H04Q1/20
摘要:
本发明公开了一种故障诊断测试项的规划方法,包括如下步骤:将一维测试项空间划分为若干个块,根据测试项空间的大小,分配每个块的长度,依次分配测试项块给所需诊断的单板使用;将单板使用的多个块链接成块链表结构,标识块的属性信息包括块归属的单板类型、块链表中的块序号、块链表中的下一个块序号以及该块已占用的测试项个数;按照单板测试项空间的分配,初始化各单板块链表。本发明提高了诊断测试项空间的可维护性,降低了诊断测试项空间初始化的难度。
公开/授权文献
- CN101137164B 一种故障诊断测试项的设置方法和系统 公开/授权日:2011-05-11