发明授权
- 专利标题： 荧光X射线分析装置和其所采用的程序
- 专利标题（英）： Fluorescence x-ray spectroscope and program used therefore
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申请号： CN200580049351.0申请日： 2005-12-08
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公开(公告)号： CN101151524B公开(公告)日： 2013-06-05
- 发明人: 河原直树 , 原真也
- 申请人： 株式会社理学
- 申请人地址： 日本国东京都
- 专利权人： 株式会社理学
- 当前专利权人： 株式会社理学,申请人
- 当前专利权人地址： 日本国东京都
- 代理机构： 北京三幸商标专利事务所
- 代理商 刘激扬
- 优先权： 109503/2005 2005.04.06 JP
- 国际申请： PCT/JP2005/022552 2005.12.08
- 国际公布： WO2006/112084 JA 2006.10.26
- 进入国家日期： 2007-09-29
- 主分类号： G01N23/223
- IPC分类号： G01N23/223
摘要：
一种荧光X射线分析装置等，其通过FP法对试样的组分、面积密度进行分析，针对各种试样，可按照简便、并且将几何效果充分符合现实而添加的方式计算理论强度，足够正确地进行定量分析。包括计算机构(10)，该计算机构(10)根据假定的组分，计算从试样(13)的各元素产生的二次X射线(6)的理论强度，按照该理论强度与通过上述检测机构(9)测定的测定强度换算为理论强度值的换算测定强度一致的方式，逐次近似地修正计算假定的组分，计算试样(13)的组分，上述计算机构(10)每当计算理论强度时，将试样(13)的大小与照射到试样表面(13a)的各位置的一次X射线(2)的强度和入射角φ作为参数，针对各光路模拟计算二次X射线(6)的理论强度。
公开/授权文献
- CN101151524A 荧光X射线分析装置和其所采用的程序 公开/授权日：2008-03-26
