发明授权
CN101153820B 测量装置和测量方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 测量装置和测量方法
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申请号: CN200710103305.5申请日: 2007-05-18
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公开(公告)号: CN101153820B公开(公告)日: 2012-02-08
- 发明人: 藤原胜美 , 大场英俊
- 申请人: 富士通株式会社
- 申请人地址: 日本神奈川县川崎市
- 专利权人: 富士通株式会社
- 当前专利权人: 富士通株式会社
- 当前专利权人地址: 日本神奈川县川崎市
- 代理机构: 隆天国际知识产权代理有限公司
- 代理商 张龙哺
- 优先权: 2006-262970 2006.09.27 JP
- 主分类号: G01J4/00
- IPC分类号: G01J4/00 ; G02B26/08 ; B81B7/02
摘要:
本发明提供一种测量装置,包括:测量光源(14),用于向镜平面(11)发射测量光(28);投射单元(17),测量光源发射的测量光(28)从镜平面(11)反射时形成的反射光(13)投射在投射单元上作为投射光点;图像拾取单元(18),用于拾取投射单元(17)的图像,反射光(13)投射在投射单元上作为投射光点;控制单元(31),用于控制镜平面(11)的倾斜度;提取单元(32);以及测量单元(33),用于基于图像拾取单元拾取的投射单元的图像,测量投射光点(50)的移动量,投射光点随着受控制单元(31)控制的镜平面(11)的倾斜度变化而移动。本发明使得能够在短时间内高准确度地测量具有可改变倾斜度的镜平面(11)的镜系统(12)的偏转特性。
公开/授权文献
- CN101153820A 测量装置和测量方法 公开/授权日:2008-04-02