- 专利标题: 用于辐射源的控制单元和控制方法及辐射检查系统和方法
- 专利标题(英): Control cell and control method for radiation source and radiation detecting system and method thereof
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申请号: CN200610113717.2申请日: 2006-10-13
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公开(公告)号: CN101163369A公开(公告)日: 2008-04-16
- 发明人: 陈志强 , 李元景 , 刘以农 , 李君利 , 彭华 , 刘耀红 , 孙尚民 , 张金宇 , 张清军 , 张丽 , 谢亚丽 , 邓艳丽 , 阮明 , 梁思远 , 杨光 , 贾玮
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 宋合成
- 主分类号: H05G1/30
- IPC分类号: H05G1/30 ; H05G1/26 ; G01N23/04 ; G01N23/083 ; G01N23/12 ; G01N23/14
摘要:
一种辐射检查系统,包括:检查通道,被检查的移动目标能够通过所述检查通道;辐射源,所述辐射源设置在所述检查通道一侧并且用于发出射线;探测器阵列,所述探测器阵列设置在所述检查通道的另一侧并与所述辐射源相对,用于接收从辐射源发出的射线;用于检测移动目标的检测器;和控制器,所述控制器从检测器接收信号,并且在所述检测器检测到所述移动目标时控制辐射源发出射线,以便对移动目标进行辐射成像和检查。根据本发明的辐射检查系统,控制器能够基于检测器的检测信号控制辐射源自动发出射线束,从而对移动目标进行辐射检查,从而提高了检查效率,并且提高了安全性,消除了辐射源的误操作。
公开/授权文献
- CN101163369B 用于辐射源的控制单元和控制方法及辐射检查系统和方法 公开/授权日:2011-07-20