发明授权
- 专利标题: 单晶硅的生长方法
- 专利标题(英): Method for growing silicon single crystal
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申请号: CN200580050178.6申请日: 2005-12-01
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公开(公告)号: CN101203634B公开(公告)日: 2011-06-08
- 发明人: 稻见修一 , 高濑伸光 , 小暮康弘 , 滨田建 , 中村刚
- 申请人: 胜高股份有限公司
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 胜高股份有限公司
- 当前专利权人: 胜高股份有限公司
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 孙秀武; 李平英
- 优先权: 179995/2005 2005.06.20 JP
- 国际申请: PCT/JP2005/022109 2005.12.01
- 国际公布: WO2006/137179 JA 2006.12.28
- 进入国家日期: 2007-12-18
- 主分类号: C30B29/06
- IPC分类号: C30B29/06 ; C30B15/00
摘要:
本发明涉及单晶硅的生长方法。在生长中的单晶硅侧面部负荷有热应力的条件下通过卓克拉尔斯基法生长单晶硅。使生长单晶的气氛气体为惰性气体和含氢原子物质气体的混合气体。
公开/授权文献
- CN101203634A 单晶硅的生长方法 公开/授权日:2008-06-18
IPC分类: