发明授权
CN1012776B 带有埋置绝缘氧化物区的金属氧化物半导体晶体管制作方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 带有埋置绝缘氧化物区的金属氧化物半导体晶体管制作方法
- 专利标题(英): PROCESS FOR FORMING MOS TRANSISTOR WITH BURIED OXIDE REGIONS FOR INSULATION
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申请号: CN86101350申请日: 1986-03-07
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公开(公告)号: CN1012776B公开(公告)日: 1991-06-05
- 发明人: 威廉·贝格 , 丁秋先 , 萧邦 , 曾志成
- 申请人: 英特尔公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 英特尔公司
- 当前专利权人: 英特尔公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 中国专利代理有限公司
- 代理商 肖掬昌; 杜有文
- 优先权: 794.524 1985.11.04 US
- 主分类号: H01L29/76
- IPC分类号: H01L29/76 ; H01L21/469 ; H01L21/31
摘要:
制作与埋置氧化物区自对准的场效应器件的MOS工艺。在由掩膜部分确定了栅之后,与掩膜部分相对准而进入氧注入。掩膜部分阻挡了氧注入,因而由此制出的晶体管的沟道区同埋置氧化层中的窗口相自对准。
公开/授权文献
- CN86101350A 带有埋置绝缘氧化物区的金属氧化物半导体晶体管制作方法 公开/授权日:1987-05-13
IPC分类: