Invention Grant
CN101282419B 一种自动坏点检测方法与设备
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种自动坏点检测方法与设备
- Patent Title (English): Method and apparatus for automatically detecting bad point
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Application No.: CN200810105491.0Application Date: 2008-04-29
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Publication No.: CN101282419BPublication Date: 2012-08-22
- Inventor: 梅大为 , 邱嵩 , 王浩
- Applicant: 北京中星微电子有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层
- Assignee: 北京中星微电子有限公司
- Current Assignee: 北京中星微电子有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层
- Agency: 北京亿腾知识产权代理事务所
- Agent 陈霁
- Main IPC: H04N5/367
- IPC: H04N5/367 ; H04N17/00
![一种自动坏点检测方法与设备](/CN/2008/1/21/images/200810105491.jpg)
Abstract:
本发明提供了一种坏点检测方法和设备。所述方法包括:判断象素点所在区域是细节区域或均匀区域;对均匀区域中的象素点,判断是否空间连通以及是否已在自动坏点表中;对判断为空间连通并且已在自动坏点表中的象素点,进行场景运动判断;以及根据场景运动判断的结果,确定是否是坏点。本发明通过细节区域和均匀区域的区分,以有效防止对原本图像细节的模糊;对均匀区域严格作坏点判断时空间连通性的判断条件,以提高对坏点检测的灵敏度和“伤点”的检测率;自动坏点表的运用,大大增加真实坏点的检测率。
Public/Granted literature
- CN101282419A 一种自动坏点检测方法与设备 Public/Granted day:2008-10-08
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