发明公开
- 专利标题: 试样微动探测装置
- 专利标题(英): Test sample jiggle detecting device
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申请号: CN200810062142.5申请日: 2008-05-30
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公开(公告)号: CN101290270A公开(公告)日: 2008-10-22
- 发明人: 王长陶 , 钟绵新 , 李建华
- 申请人: 杭州邦威机电控制工程有限公司
- 申请人地址: 浙江省杭州市西湖区天目山路376号龙都大厦504室
- 专利权人: 杭州邦威机电控制工程有限公司
- 当前专利权人: 杭州邦威机电控制工程有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市西湖区天目山路376号龙都大厦504室
- 代理机构: 杭州赛科专利代理事务所
- 代理商 王桂名
- 主分类号: G01M19/00
- IPC分类号: G01M19/00 ; G01B7/02
摘要:
本发明涉及一种大型结构实验的试样微动探测装置,包括位移传感器,所述位移传感器包括主体部分和磁环部分,所述试样和位移传感器的主体部分固定连接直线导轨,所述位移传感器的磁环部分固定连接与所述直线导轨配合的滑块,所述滑块的运动方向与试样的位移方向平行。本发明由于采用了导轨滑块组合装置,从而在试验过程中,即便受到垂向加载作动器施加的拉压试验力Fv(最大可达10000kN)的高承载情况下,通过本发明的试样微动探测装置依然可以自如地检测出被测试样水平方向的微小位移。
公开/授权文献
- CN101290270B 试样微动探测装置 公开/授权日:2010-07-14