Invention Grant
- Patent Title: 用于电磁波谱或光学分析特别是光度分析、分光光度分析或图像分析的装置
- Patent Title (English): Apparatus for the electromagnetic spectrum or optical analysis, in particular photometric, spectrophotometric or image analysis
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Application No.: CN200680025796.XApplication Date: 2006-05-12
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Publication No.: CN101300474BPublication Date: 2011-10-05
- Inventor: J·曼哈特 , T·佩奇
- Applicant: J&M分析股份公司 , 艾罗美蒂克-菲尔德股份公司
- Applicant Address: 德国埃辛根
- Assignee: J&M分析股份公司,艾罗美蒂克-菲尔德股份公司
- Current Assignee: J&M分析股份公司,艾罗美蒂克-菲尔德股份公司
- Current Assignee Address: 德国埃辛根
- Agency: 中国专利代理(香港)有限公司
- Agent 范晓斌
- Priority: 202005011177.5 2005.07.15 DE
- International Application: PCT/EP2006/004496 2006.05.12
- International Announcement: WO2007/009522 EN 2007.01.25
- Date entered country: 2008-01-15
- Main IPC: G01N21/15
- IPC: G01N21/15
Abstract:
一种装置,用于对待分析材料进行电磁波谱或光学分析,该材料位于产品区诸如容器或管中,特别是用于对粉末、块状材料、颗粒等进行光度分析、分光光度分析或图像分析,该装置具有位于外壳中的测量探头,该测量探头具有至少一个辐射或光测量元件、设置在该外壳壁内并处于光路中的测量窗口、以及至少一个用于分析的检测元件。测量探头以这样一种方式形成并且在轴向可移动地被引导,该方式使设有测量窗口的至少部分外壳通过开口进入包含待分析材料的产品区中,以用于分析。该至少一个测量窗口被设置在外壳周壁的至少一个子区域中。密封帽被设置在外壳的前端面与设置在周壁中的测量窗口之间,在测量探头的退回位置,测量窗口处于产品区之外,该密封帽至少部分地仍然处于产品区(3)的开口(5)区域中,并因此覆盖该开口(5)。
Public/Granted literature
- CN101300474A 用于电磁波谱或光学分析特别是光度分析、分光光度分析或图像分析的装置 Public/Granted day:2008-11-05
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