- 专利标题: 制造半导体器件的方法及所制造出的半导体器件
- 专利标题(英): Method of manufacturing semiconductor device and semiconductor device manufactured thereof
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申请号: CN200810110641.7申请日: 2008-06-06
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公开(公告)号: CN101320688B公开(公告)日: 2011-02-16
- 发明人: 山上滋春 , 星正胜 , 林哲也 , 田中秀明
- 申请人: 日产自动车株式会社
- 申请人地址: 日本神奈川县
- 专利权人: 日产自动车株式会社
- 当前专利权人: 日产自动车株式会社
- 当前专利权人地址: 日本神奈川县
- 代理机构: 北京林达刘知识产权代理事务所
- 代理商 刘新宇; 陈立航
- 优先权: 2007-153006 2007.06.08 JP; 2007-333626 2007.12.26 JP
- 主分类号: H01L21/283
- IPC分类号: H01L21/283 ; H01L21/31 ; H01L21/336 ; H01L29/78 ; H01L29/423
摘要:
本发明提供一种制造半导体器件的方法及所制造出的半导体器件。这里教导了制造包括半导体衬底和异质半导体区的半导体器件的方法以及所生成的器件,其中该异质半导体区包括带隙不同于半导体衬底的带隙、并接触半导体衬底的第一表面的一部分的异质半导体材料。该方法包括在半导体衬底的第一表面的暴露部分上和异质半导体材料的暴露表面上沉积第一绝缘膜,以及通过在氧化气氛中进行热处理来在第一绝缘膜与半导体衬底和异质半导体区域的面向第一绝缘膜的表面之间形成第二绝缘膜。
公开/授权文献
- CN101320688A 制造半导体器件的方法及所制造出的半导体器件 公开/授权日:2008-12-10
IPC分类: