Invention Grant
- Patent Title: 自身位置辨认方法和装置以及三维形状的计测方法和装置
- Patent Title (English): Self-position identifying method and device, and three-dimensional shape gauging method and device
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Application No.: CN200680047462.2Application Date: 2006-12-15
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Publication No.: CN101331379BPublication Date: 2012-04-11
- Inventor: 林俊宽 , 河野幸弘 , 寺田英雄
- Applicant: 株式会社IHI
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 株式会社IHI
- Current Assignee: 株式会社IHI
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 中国专利代理(香港)有限公司
- Agent 王岳; 张志醒
- Priority: 363320/2005 2005.12.16 JP
- International Application: PCT/JP2006/325051 2006.12.15
- International Announcement: WO2007/069726 JA 2007.06.21
- Date entered country: 2008-06-16
- Main IPC: G01B21/00
- IPC: G01B21/00 ; G01B21/20 ; G01S17/89 ; G06T17/10
Abstract:
本发明实施下述步骤:步骤(S1),在新的计测位置处将三维形状上的坐标值输入到计算机中;步骤(S4),构筑环境模型,该环境模型将三维形状所存在的空间区域分割为由立方体构成的多个体素,并存储各位置;以及步骤(S5),在对应于坐标值的体素的内部设定代表点及其误差分布并存储起来。接着,在先前的计测位置的数据存在的情况下,实施:精密对准步骤(S7),对于针对先前的计测位置的环境模型,使新的计测数据以及误差分布旋转及平移,或者使针对新的计测位置的环境模型旋转及平移,并以与邻近的误差分布间距离有关的评价值成为最小的方式,进行位置对准。根据精密对准步骤中的旋转量以及平移量来辨认自身位置。
Public/Granted literature
- CN101331379A 自身位置辨认方法和装置以及三维形状的计测方法和装置 Public/Granted day:2008-12-24
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