带状工件的曝光装置及带状工件的曝光装置的聚焦调整方法
摘要:
本发明的课题是实现可在曝光处理途中进行聚焦调整,且无须追加聚焦调整专用的照明单元或显像单元,就可以在短时间内调整聚焦。在将形成于掩模(M)的图案投影在带状工件(W)、并进行曝光的带状工件的曝光装置中,在掩模(M)的对准标记(MAM)的内侧形成投影透镜用聚焦调整图案(FP)。此外,在工件台(10)的贯通孔或缺口(10a)上配置光透过部件(10b),而形成对准显微镜用聚焦调整图案(AP)。由对准显微镜(12)检测掩模与带状工件的对准标记,并进行掩模(M)与带状工件(W)的对位,接着,通过对准显微镜(12),检测投影透镜用聚焦调整图案(FP)与上述对准显微镜用聚焦调整图案(AP)并进行聚焦调整。
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