发明授权
CN101473443B 用于形成屏蔽栅极沟槽FET的结构和方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 用于形成屏蔽栅极沟槽FET的结构和方法
- 专利标题(英): Structure and method for forming a shielded gate trench FET with the shield and gate electrodes being connected together
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申请号: CN200780023013.9申请日: 2007-05-21
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公开(公告)号: CN101473443B公开(公告)日: 2010-09-01
- 发明人: 内森·克拉夫特 , 克里斯多佛·博古斯洛·科库 , 保尔·托鲁普
- 申请人: 飞兆半导体公司
- 申请人地址: 美国缅因州
- 专利权人: 飞兆半导体公司
- 当前专利权人: 飞兆半导体公司
- 当前专利权人地址: 美国缅因州
- 代理机构: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- 代理商 余刚; 吴孟秋
- 优先权: 11/471,279 2006.06.19 US
- 国际申请: PCT/US2007/069329 2007.05.21
- 国际公布: WO2007/149666 EN 2007.12.27
- 进入国家日期: 2008-12-19
- 主分类号: H01L29/76
- IPC分类号: H01L29/76
摘要:
一种场效应晶体管(FET)包括延伸进入半导体区域的多个沟槽。每个沟槽包括栅极电极和屏蔽电极,其间含有极间电介质,其中,屏蔽电极和栅极电极电连接在一起。
公开/授权文献
- CN101473443A 用于形成屏蔽栅极沟槽FET的结构和方法 公开/授权日:2009-07-01
IPC分类: