发明公开
- 专利标题: 一种毫米波近场全能标校系统
- 专利标题(英): Millimeter-wave near-field all-around alignment calibration system
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申请号: CN200910073887.6申请日: 2009-03-09
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公开(公告)号: CN101510632A公开(公告)日: 2009-08-19
- 发明人: 陈建民 , 史东湖 , 张政伟 , 吴景宇 , 于树全 , 汪沛 , 刘欣 , 杨怡慧
- 申请人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 申请人地址: 河北省石家庄市中山西路589号第五十四研究所遥控遥测专业部
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 当前专利权人地址: 河北省石家庄市中山西路589号第五十四研究所遥控遥测专业部
- 代理机构: 石家庄科诚专利事务所
- 代理商 王文庆
- 主分类号: H01Q3/00
- IPC分类号: H01Q3/00 ; H01Q15/14 ; H01Q23/00
摘要:
本发明涉及一种中继卫星通信测控领域的毫米波近场全能标校系统。包括:系统发射机(1),带有两根金属支杆(2)的大口径面天线(3),有线标校设备(4),系统接收机(5),其中一根金属支杆(2)上设有用于接收标校信号的小型接收喇叭天线(6),另一根金属支杆(2)上设有用于向系统接收机(5)发射信号的小型发射喇叭天线(7),所述的接收喇叭天线(6)、发射喇叭天线(7)均通过波导分别与标校设备(4)的信号接收端、信号输出端相连。采用该技术方案的标校系统,不受天气和环境影响、随时可进行标校的毫米波近场全能标校系统,且电平可调,可靠性能高。
公开/授权文献
- CN101510632B 一种毫米波近场标校系统 公开/授权日:2013-03-27