发明公开
- 专利标题: 基于硅通孔的三维晶圆叠层的键合方法
- 专利标题(英): Bonding method of three dimensional wafer lamination based on silicon through holes
-
申请号: CN200880000036.2申请日: 2008-06-05
-
公开(公告)号: CN101542701A公开(公告)日: 2009-09-23
- 发明人: 马薇 , 史训清 , 仲镇华
- 申请人: 香港应用科技研究院有限公司
- 申请人地址: 中国香港新界沙田香港科学园科技大道西二号生物资讯中心三楼
- 专利权人: 香港应用科技研究院有限公司
- 当前专利权人: 香港应用科技研究院有限公司
- 当前专利权人地址: 中国香港新界沙田香港科学园科技大道西二号生物资讯中心三楼
- 代理机构: 深圳创友专利商标代理有限公司
- 代理商 江耀纯
- 国际申请: PCT/CN2008/071193 2008.06.05
- 进入国家日期: 2008-06-27
- 主分类号: H01L21/50
- IPC分类号: H01L21/50 ; H01L21/60 ; H01L25/00 ; H01L23/52
摘要:
本发明描述了一个基于硅通孔的晶圆叠层的混合键合方法。具有图案的粘胶层将叠层内相邻晶圆连接在一起,同时硅通孔之间的焊接键合被用作晶圆叠层间的电信号互连。粘胶层上设计的图案用以排放焊接过程中产生的气体并消除应力。
公开/授权文献
- CN101542701B 基于硅通孔的三维晶圆叠层的键合方法 公开/授权日:2011-05-25
IPC分类: