发明公开
CN101553888A 多层导电结构和包括该结构的电位计
失效 - 权利终止
- 专利标题: 多层导电结构和包括该结构的电位计
- 专利标题(英): Layered electrically conductive structure and potentiometer comprising such a structure
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申请号: CN200680056054.3申请日: 2006-10-12
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公开(公告)号: CN101553888A公开(公告)日: 2009-10-07
- 发明人: J·特珀 , F·科尼格 , K·尼亚耶什 , S·肖夫特
- 申请人: ABB研究有限公司
- 申请人地址: 瑞士苏黎世
- 专利权人: ABB研究有限公司
- 当前专利权人: ABB研究有限公司
- 当前专利权人地址: 瑞士苏黎世
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 张涛; 蒋骏
- 国际申请: PCT/CH2006/000568 2006.10.12
- 国际公布: WO2008/043187 EN 2008.04.17
- 进入国家日期: 2009-04-09
- 主分类号: H01C10/30
- IPC分类号: H01C10/30 ; H01C10/46 ; H01C10/16 ; H01C10/38
摘要:
本发明涉及一种包括导电层叠体(10)的电阻器(1),该层叠体(10)包括多个第一金属层(12)和第二层(14)。该层叠体(10)使得可以制造高度各向异性的电阻器(1),其中,在垂直于层(12,14)的方向上的电阻值大大高于层(12,14)的平面中的电阻值。即使电流以非均匀的方式输入到该层叠体(10)中,该各向异性也使得流经层叠体(10)的电流均匀化,即分布在整个叠层体的表面上。
公开/授权文献
- CN101553888B 多层导电材料 公开/授权日:2012-07-11