发明授权
CN101561257B 一种复杂微型件的非接触逆向测量方法及其测量装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种复杂微型件的非接触逆向测量方法及其测量装置
- 专利标题(英): Converse non-contact measuring method for complicated miniature members and measuring device thereof
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申请号: CN200910039675.6申请日: 2009-05-22
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公开(公告)号: CN101561257B公开(公告)日: 2011-04-27
- 发明人: 刘成军 , 阮锋
- 申请人: 华南理工大学
- 申请人地址: 广东省广州市天河区五山路381号
- 专利权人: 华南理工大学
- 当前专利权人: 华南理工大学
- 当前专利权人地址: 广东省广州市天河区五山路381号
- 代理机构: 广州市华学知识产权代理有限公司
- 代理商 黄磊; 李卫东
- 主分类号: G01B11/24
- IPC分类号: G01B11/24 ; G01B11/25
摘要:
本发明公开了一种复杂微型件的非接触逆向测量方法,1、将待测量的复杂微型件喷涂显影剂并干燥处理;2、将经过干燥处理的复杂微型件放置于测量装置的涂有不反光黑色涂层的台体上,此时,复杂微型件与测量装置构成一个整体,通过测量机对该整体的三维数据进行测量,并将测量的三维数据保存至计算机中,然后从计算机中再删除测量装置的三维数据,即得到复杂微型件的三维测量数据;本发明具有测量数据全面、准确,实施便捷的特点,通过与测量装置相互配合,能够对复杂微型件进行多视角三维数据测量,解决了因为复杂微型件过小难以实现全角度测量的问题,本发明的测量装置结构简单,成本低,容易实现,便于推广应用。
公开/授权文献
- CN101561257A 一种复杂微型件的非接触逆向测量方法及其测量装置 公开/授权日:2009-10-21