发明授权
CN101561640B 确定曝光设置的方法和光刻曝光设备
失效 - 权利终止
- 专利标题: 确定曝光设置的方法和光刻曝光设备
- 专利标题(英): Method for determining exposure settings and lithographic exposure apparatus
-
申请号: CN200910138754.2申请日: 2009-02-09
-
公开(公告)号: CN101561640B公开(公告)日: 2011-08-10
- 发明人: D·W·布里 , R·布林克霍夫 , F·斯达尔斯 , R·弗兰肯 , E·J·库普
- 申请人: ASML荷兰有限公司
- 申请人地址: 荷兰维德霍温
- 专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰维德霍温
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 王新华
- 优先权: 61/006,950 2008.02.07 US
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20
摘要:
本发明涉及一种确定曝光设置的方法、光刻曝光设备、计算机程序和数据载体。一种在光刻曝光过程中确定衬底上目标区域的曝光设置的方法,包括通过沿相对于校准区域位置的第二和第三方向在多个校准位置处确定沿第一方向的校准区域的位置,提供校准数据。该方法还包括通过以下步骤提供制造数据:沿第二和第三方向建立目标区域的衬底上的位置;和在相对于沿第二和第三方向的曝光区域的位置的至少一个测量位置处测量沿第一方向的曝光区域的位置。该方法进一步包括在至少一个第一相对测量位置和多个相对校准位置之间执行对比,和利用对比来基于沿第一方向的曝光区域的所测量位置和校准数据确定曝光设置,其中校准数据涉及至少一个相对校准位置,其不同于至少一个相对测量位置。
公开/授权文献
- CN101561640A 确定曝光设置的方法、光刻曝光设备、计算机程序和数据载体 公开/授权日:2009-10-21
IPC分类: