发明授权
CN101566583B 面板元件缺陷检测系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 面板元件缺陷检测系统
- 专利标题(英): Defect detection system of panel component
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申请号: CN200810095457.X申请日: 2008-04-23
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公开(公告)号: CN101566583B公开(公告)日: 2011-04-13
- 发明人: 李中裕 , 陈世溥 , 林依萍 , 卓连益
- 申请人: 财团法人工业技术研究院
- 申请人地址: 中国台湾新竹县
- 专利权人: 财团法人工业技术研究院
- 当前专利权人: 财团法人工业技术研究院
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹县
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 彭久云
- 主分类号: G01N21/892
- IPC分类号: G01N21/892
摘要:
本发明公开了一种元件缺陷检测系统。该元件缺陷检测系统包括待检测元件;平台承载该待检测元件;电源单元;以及光源装置。该光源装置接受该电源单元的控制,以提供检测光给该待检测元件以检测是否有缺陷。光源装置包括阴极结构、阴极结构、荧光层、低压气体层。荧光层,位于该阴极结构与该阳极结构之间。低压气体层,填充于该阴极结构与该阳极结构之间,有诱导阴极均匀发射电子的作用,其中该低压气体层的气压是在0.1~10-3torr的范围内,该低压气体层有一电子平均自由路径,允许至少足够数量的电子在一操作电压下直接撞击该荧光层。
公开/授权文献
- CN101566583A 面板元件缺陷检测系统 公开/授权日:2009-10-28