发明授权
CN101567324B 处理硅基晶圆的方法与系统及封装半导体元件的方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 处理硅基晶圆的方法与系统及封装半导体元件的方法
- 专利标题(英): Method and system of handling silicon-based wafer and method of packaging semiconductor
-
申请号: CN200910130333.5申请日: 2009-03-31
-
公开(公告)号: CN101567324B公开(公告)日: 2012-01-04
- 发明人: 李建勋 , 陈承先 , 李明机 , 郭祖宽
- 申请人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
- 专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
- 代理机构: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司
- 代理商 寿宁; 张华辉
- 优先权: 12/107,504 2008.04.22 US
- 主分类号: H01L21/50
- IPC分类号: H01L21/50 ; H01L21/58 ; H01L21/00 ; H01L21/683
摘要:
本发明是有关于一种处理硅基晶圆的方法与系统及封装半导体元件的方法。该硅基晶圆具有第一表面及第二表面,一玻璃载体利用紫外线照射胶布设置在硅基晶圆的第二表面,该处理硅基晶圆的方法包括:利用真空夹持器夹持硅基晶圆,其中真空夹持器作用在硅基晶圆的第一表面;通过玻璃载体以紫外线束照射紫外线照射胶布,释放紫外线照射胶布,由硅基晶圆上移除玻璃载体;翻转硅基晶圆;置放硅基晶圆于真空基板上;利用真空作用将硅基晶圆稳固于真空基板上;及自硅基晶圆移除真空夹持器。本发明还提供了一种封装半导体元件的方法,及一种处理硅基晶圆的系统。藉此,利用真空基板提供玻璃载体移除后硅基晶圆所需的刚性,以减少穿透硅介层窗中介层的毁损。
公开/授权文献
- CN101567324A 处理硅基晶圆的方法与系统及封装半导体元件的方法 公开/授权日:2009-10-28
IPC分类: