发明授权
- 专利标题: 一种高精度微振动测量系统
- 专利标题(英): High-precision microvibration measuring system
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申请号: CN200910086718.6申请日: 2009-06-24
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公开(公告)号: CN101592518B公开(公告)日: 2012-05-30
- 发明人: 赵煜 , 程伟 , 王志旺 , 陈恩涛 , 王和 , 张鹏飞 , 伍时建
- 申请人: 北京航空航天大学 , 北京空间飞行器总体设计部
- 申请人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 专利权人: 北京航空航天大学,北京空间飞行器总体设计部
- 当前专利权人: 申请人:北京航空航天大学,
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 代理机构: 北京科迪生专利代理有限责任公司
- 代理商 成金玉; 卢纪
- 主分类号: G01H11/08
- IPC分类号: G01H11/08
摘要:
一种高精度微振动测量系统,由底座、负载盘、八个压电力传感器(其中四个沿竖直方向安装、另外四个沿水平方向安装)以及数据采集和处理系统组成;竖向压力传感器位于负载盘和底座上表面之间,通过螺栓压紧连接;侧向压力传感器位于负载盘四周,通过螺栓和侧向定位板与底座连接。将八个传感器进行合理布置,可以测出扰动源的三个动态力和三个动态弯矩。扰动源既可以装在系统内部,也可以装在系统外部,根据具体需求进行布置。各压电传感器通过导线与数据采集和处理系统连接;该测量系统可以精确测量微小振动源的扰动力,并且测量的可靠性高。
公开/授权文献
- CN101592518A 一种高精度微振动测量系统 公开/授权日:2009-12-02