Invention Grant
CN101608999B 实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置和测量方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置和测量方法
- Patent Title (English): Real-time observation single-beam dual-mode parameter adjustable Z scanning device and measurement method
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Application No.: CN200910054823.1Application Date: 2009-07-15
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Publication No.: CN101608999BPublication Date: 2011-04-20
- Inventor: 刘静 , 魏劲松
- Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- Applicant Address: 上海市800-211邮政信箱
- Assignee: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- Current Assignee: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- Current Assignee Address: 上海市800-211邮政信箱
- Agency: 上海新天专利代理有限公司
- Agent 张泽纯
- Main IPC: G01N21/17
- IPC: G01N21/17 ; G01N21/41 ; G01N21/01

Abstract:
一种实时观察的单束双模参数可调型Z扫描装置和测量方法,主要由参数调制部分,数据采集部分以及观察部分组成。在参数调制部分中,激光通过可调节衰减片以及声光调节器之后变为功率脉冲可调型的激光束,由透镜聚焦到样品表面;在数据采集部分,样品后表面的出射光通过分光棱镜分为两束,其中一束光直接进入探测器,得到材料的非线性吸收;另一束通过一个中心与光轴同轴的小孔光阑进入另一个探测器,得到材料的非线性折射;在观察部分中,在装置的光路上增加冷光源的照明装置,以便在实验中实时观察作用点的变换情况。本发明实现简单,可获得不同条件材料的非线性吸收率和非线性折射率。
Public/Granted literature
- CN101608999A 实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置和测量方法 Public/Granted day:2009-12-23
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