发明授权
- 专利标题: 一种高密度、高鲁棒性的亚阈值存储单元电路
- 专利标题(英): Sub-threshold storing unit circuit with high density and high robustness
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申请号: CN200910183605.8申请日: 2009-08-12
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公开(公告)号: CN101625891B公开(公告)日: 2011-08-03
- 发明人: 杨军 , 柏娜 , 李杰 , 胡晨 , 时龙兴
- 申请人: 东南大学
- 申请人地址: 江苏省南京市四牌楼2号
- 专利权人: 东南大学
- 当前专利权人: 南京集成电路设计服务产业创新中心有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省南京市四牌楼2号
- 代理机构: 南京经纬专利商标代理有限公司
- 代理商 奚幼坚
- 主分类号: G11C11/40
- IPC分类号: G11C11/40
摘要:
一种高密度、高鲁棒性的亚阈值存储单元电路,设有两个PMOS管P1、P2及五个NMOS管N1~N5,两个PMOS管及NMOS管N3、N4、N5的各体端均与本晶体管的栅端连接;NMOS管N1、N2的体端接地;NMOS管N1与PMOS管P1和NMOS管N2与PMOS管P2分别组成两个反相器,两个反相器之间通过关断NMOS管N5将两个反相器连接成交叉耦合,N1、P1反相器的输出端直接连接到N2、P2反相器的输入端,N2、P2反相器的输出端经由关断NMOS管N5连接到N1与P1反相器的输入端;NMOS管N3连接N1、P1反相器的与写位线,NMOS管N4连接N2、P2反相器的与写位线的非和读字线。
公开/授权文献
- CN101625891A 一种高密度、高鲁棒性的亚阈值存储单元电路 公开/授权日:2010-01-13