发明授权
- 专利标题: 超声波探头及其制造方法及超声波诊断装置
- 专利标题(英): Ultrasonic probe and method for manufacturing the same and ultrasonic diagnostic device
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申请号: CN200880008931.9申请日: 2008-02-27
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公开(公告)号: CN101636112B公开(公告)日: 2011-10-26
- 发明人: 佐野秀造 , 佐光晓史 , 小林隆 , 泉美喜雄
- 申请人: 株式会社日立医药
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立医药
- 当前专利权人: 富士胶片医疗健康株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 朱丹
- 优先权: 072604/2007 2007.03.20 JP
- 国际申请: PCT/JP2008/053366 2008.02.27
- 国际公布: WO2008/114582 JA 2008.09.25
- 进入国家日期: 2009-09-18
- 主分类号: A61B8/00
- IPC分类号: A61B8/00 ; G01N29/24 ; H04R17/00
摘要:
本发明的超声波探头为如下所述的超声波探头(2),其具备:具有与偏置电压对应改变机电耦合系数或灵敏度的多个振动要件,且发送接收超声波的cMUT芯片(20);设置于所述cMUT芯片(20)的超声波辐射侧的音响透镜(26);设置于所述cMUT芯片(20)的背面侧,且吸收所述超声波的传播的背衬层(22);从所述cMUT芯片(20)的周缘部开始设置于所述背衬层(22)的侧面,且配置有与所述cMUT芯片(20)的电极连接的信号图案的电配线部(挠性基板(72));收容所述cMUT芯片(20)、所述音响透镜(26)、所述背衬层(22)及所述电配线部(挠性基板(72))的框体部(超声波探头罩(25)),在所述cMUT芯片(20)的超声波辐射侧设置有接地电位的接地层(导电膜(76))。
公开/授权文献
- CN101636112A 超声波探头及其制造方法及超声波诊断装置 公开/授权日:2010-01-27