发明公开
- 专利标题: 试样分析装置
- 专利标题(英): Sample analyzer
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申请号: CN200910161548.3申请日: 2009-07-31
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公开(公告)号: CN101639418A公开(公告)日: 2010-02-03
- 发明人: 小坂时弘 , 大久保孝一
- 申请人: 希森美康株式会社
- 申请人地址: 日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号
- 专利权人: 希森美康株式会社
- 当前专利权人: 希森美康株式会社
- 当前专利权人地址: 日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号
- 代理机构: 北京金之桥知识产权代理有限公司
- 代理商 刘良勇
- 优先权: 2008-200179 2008.08.01 JP
- 主分类号: G01N1/14
- IPC分类号: G01N1/14 ; G01N35/02 ; G01N35/04 ; G01F23/00
摘要:
一种试样分析装置,包括:试样量获取模块,获取关于试样容器中试样量的试样量信息;吸移器,吸移装在所述试样容器中的所述试样;测定单元,测定所述吸移器吸移的所述试样;及吸移控制模块,根据所述试样量获取模块获取的所述试样量信息,控制所述吸移器。
公开/授权文献
- CN101639418B 试样分析装置 公开/授权日:2011-12-07