红外辐射温度计的测定异常检测装置及其测定异常检测方法
Abstract:
对应用于热成像法的红外辐射温度计,能够检测该红外辐射温度计的计测异常,并推断计测异常原因,如对物透镜的污染及红外辐射温度计机构部故障等。本发明具有:模拟透镜(21),在红外辐射温度计(10)的对物透镜(11)周围,以比对物透镜(11)更容易污染的位置及姿态被配置;激光位移计(22),每隔规定时间或在规定时刻向摸拟透镜(21)投射光线,并接收由模拟透镜(21)反射的光,对该受光量进行测定;判断单元(50),根据由激光位移计(22)测定的受光量计算投射光的衰减率,并根据算出的衰减率推断模拟透镜(21)的污染程度,根据模拟透镜(21)污染程度判断是否发出对物透镜污染的警告,并判断红外辐射温度计(10)的测定异常。
Patent Agency Ranking
0/0