Invention Grant
- Patent Title: 红外辐射温度计的测定异常检测装置及其测定异常检测方法
- Patent Title (English): Abnormal measurement detection device and method for infrared radiation thermometer
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Application No.: CN200880010794.2Application Date: 2008-03-25
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Publication No.: CN101652644BPublication Date: 2011-10-12
- Inventor: 古川雄一 , 中村慎吾 , 冈田裕二 , 河原文雄
- Applicant: 丰田自动车株式会社 , 株式会社明和先进技术
- Applicant Address: 日本爱知县
- Assignee: 丰田自动车株式会社,株式会社明和先进技术
- Current Assignee: 丰田自动车株式会社,株式会社明和先进技术
- Current Assignee Address: 日本爱知县
- Agency: 北京金信立方知识产权代理有限公司
- Agent 黄威; 孙丽梅
- Priority: 094131/2007 2007.03.30 JP
- International Application: PCT/JP2008/056283 2008.03.25
- International Announcement: WO2008/123487 JA 2008.10.16
- Date entered country: 2009-09-29
- Main IPC: G01J5/00
- IPC: G01J5/00
Abstract:
对应用于热成像法的红外辐射温度计,能够检测该红外辐射温度计的计测异常,并推断计测异常原因,如对物透镜的污染及红外辐射温度计机构部故障等。本发明具有:模拟透镜(21),在红外辐射温度计(10)的对物透镜(11)周围,以比对物透镜(11)更容易污染的位置及姿态被配置;激光位移计(22),每隔规定时间或在规定时刻向摸拟透镜(21)投射光线,并接收由模拟透镜(21)反射的光,对该受光量进行测定;判断单元(50),根据由激光位移计(22)测定的受光量计算投射光的衰减率,并根据算出的衰减率推断模拟透镜(21)的污染程度,根据模拟透镜(21)污染程度判断是否发出对物透镜污染的警告,并判断红外辐射温度计(10)的测定异常。
Public/Granted literature
- CN101652644A 红外辐射温度计的测定异常检测装置及其测定异常检测方法 Public/Granted day:2010-02-17
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