发明授权
CN101656203B 多栅极晶体管制作方法及系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 多栅极晶体管制作方法及系统
- 专利标题(英): Method and system for manufacturing multi-gate transistor
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申请号: CN200810041880.1申请日: 2008-08-19
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公开(公告)号: CN101656203B公开(公告)日: 2012-05-09
- 发明人: 何永根
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 申请人地址: 上海市张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市张江路18号
- 代理机构: 上海思微知识产权代理事务所
- 代理商 屈蘅; 李时云
- 主分类号: H01L21/28
- IPC分类号: H01L21/28 ; H01L21/336
摘要:
本发明公开了多栅极晶体管制作方法及系统,以提高多栅极晶体管的性能。所述晶体管的各个栅极对应有各自的栅电介质层,该方法包括:当在制作当前栅电介质层和制作下一个栅电介质层之间,有多个能够用于清除相同待清除物质的清除流程时,采用所述多个清除流程中的部分清除流程,清除所述待清除物质;所述多个清除流程中,除所述部分清除流程外的其他清除流程,对各自后续流程的执行效果的影响能够忽略。
公开/授权文献
- CN101656203A 多栅极晶体管制作方法及系统 公开/授权日:2010-02-24
IPC分类: