• 专利标题: 光频域反射测定方式的物理量测量装置、及使用了其的温度和应变的同时测量方法
  • 专利标题(英): Physical quantity measuring device of optical frequency range reflection measuring type, and temperature and strain simultaneous measuring method using the device
  • 申请号: CN200980000285.6
    申请日: 2009-03-02
  • 公开(公告)号: CN101680781B
    公开(公告)日: 2011-11-23
  • 发明人: 大道浩儿坂元明平船俊一郎
  • 申请人: 株式会社藤仓
  • 申请人地址: 日本东京都
  • 专利权人: 株式会社藤仓
  • 当前专利权人: 株式会社藤仓
  • 当前专利权人地址: 日本东京都
  • 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
  • 代理商 雒运朴; 李伟
  • 优先权: 051343/2008 2008.02.29 JP; 239368/2008 2008.09.18 JP
  • 国际申请: PCT/JP2009/053899 2009.03.02
  • 国际公布: WO2009/107839 JA 2009.09.03
  • 进入国家日期: 2009-10-27
  • 主分类号: G01D5/353
  • IPC分类号: G01D5/353 G01B11/16 G01K11/12
光频域反射测定方式的物理量测量装置、及使用了其的温度和应变的同时测量方法
摘要:
本发明的光频域反射测定方式的物理量测量装置具备:射出测定光的可调谐激光器;一端与该可调谐激光器连接的第一保偏光纤;与该第一保偏光纤的另一端连接的保偏耦合器;一端与该保偏耦合器连接,另一端作为参照用反射端的第二保偏光纤;一端与所述保偏耦合器连接的第三保偏光纤;形成于该第三保偏光纤的纤芯且由光纤光栅构成的传感器;一端与所述保偏耦合器连接的第四保偏光纤;借助该第四保偏光纤与所述保偏耦合器连接,对来自所述传感器的布拉格反射光和来自所述参照用反射端的参照光进行检测的光电二极管;根据由该光电二极管检测出的所述布拉格反射光和所述参照光的合波光强度变化,检测这些布拉格反射光和参照光之间的干涉强度的调制的控制部;向所述第二保偏光纤的正交的两个偏振轴及所述第三保偏光纤的正交的两个偏振轴双方,入射所述测定光的入射部;和配置于所述第三保偏光纤,使来自所述传感器中的正交的两个偏振轴的布拉格反射光的光路长度恒定的光路长度调整部;所述入射部被配置于所述第一保偏光纤、或所述第二保偏光纤与所述第三保偏光纤双方。
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