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自动测量存储器系统
摘要:
本发明涉及一种自动测试存储器,其原理是将测试模型同时写入存储器的各存储体内,将一个存储体所存信息与其它存储体所存信息进行比较。并当一个存储体所存信息不同于其它存储体所存信息时,记录下错误的情况。
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