发明授权
CN101699332B 玻璃基板、使用该玻璃基板的检测方法以及矩阵掩模
失效 - 权利终止
- 专利标题: 玻璃基板、使用该玻璃基板的检测方法以及矩阵掩模
- 专利标题(英): Glass substrate, detection method using glass substrate, and matrix mask
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申请号: CN200910159805.X申请日: 2009-06-29
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公开(公告)号: CN101699332B公开(公告)日: 2012-02-29
- 发明人: 潘星佑
- 申请人: 深超光电(深圳)有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市宝安区龙华街道办民清路北深超光电科技园A栋首层
- 专利权人: 深超光电(深圳)有限公司
- 当前专利权人: 深超光电(深圳)有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市宝安区龙华街道办民清路北深超光电科技园A栋首层
- 代理机构: 深圳市威世博知识产权代理事务所
- 代理商 何青瓦; 李庆波
- 主分类号: G02F1/13
- IPC分类号: G02F1/13 ; G02F1/1362 ; G03F1/44
摘要:
本发明涉及一种玻璃基板,其包括多个面板结构以及多个测试元件。面板结构彼此分离,其中每一个面板结构包括黑矩阵以及彩色滤光层。黑矩阵在玻璃基板上定义出多个像素单元。彩色滤光层配置在像素单元上。多个测试元件位于面板结构的外围,测试元件具有多个虚拟像素单元,虚拟像素单元的图案区别于像素单元的图案,且虚拟像素单元中具有标准缺陷图案。另外,本发明还提出一种使用上述玻璃基板的检测方法以及制作该玻璃基板的矩阵掩模。
公开/授权文献
- CN101699332A 玻璃基板、使用该玻璃基板的检测方法以及矩阵掩模 公开/授权日:2010-04-28