Invention Grant
- Patent Title: 具有双超浅隔离结构的硅晶体管及其制作方法
- Patent Title (English): Silicon transistor with double super-shallow isolation structures and manufacturing method thereof
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Application No.: CN200910197885.8Application Date: 2009-10-29
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Publication No.: CN101699629BPublication Date: 2011-07-20
- Inventor: 彭树根 , 高明辉
- Applicant: 上海宏力半导体制造有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号
- Assignee: 上海宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号
- Agency: 上海光华专利事务所
- Agent 余明伟; 冯珺
- Main IPC: H01L29/73
- IPC: H01L29/73 ; H01L21/331 ; H01L21/762
Abstract:
本发明公开了一种具有双超浅隔离结构的硅晶体管及其制作方法,首先提供一片硅基板,接着在硅基板中形成第一、第二超浅沟道结构,之后形成一个作为集电极的第一型掺杂区,并在介于两个超浅沟道结构之间的硅层中形成一个作为基极的第二型轻掺杂区。然后在硅基板中形成第二型掺杂区,使第一、第二型掺杂区不但分别与第一、第二超浅沟道结构邻接,并与第二型轻掺杂区邻接,最后在第二型轻掺杂区的表面形成第一型发射极结构。本发明能使与基极连接的基极连接导线的内阻变小,以提高整个器件的电流驱动力。
Public/Granted literature
- CN101699629A 具有双超浅隔离结构的硅晶体管及其制作方法 Public/Granted day:2010-04-28
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