Invention Publication
- Patent Title: 一种谐波阻抗测量方法及测量装置
- Patent Title (English): Method and device for measuring harmonic impedance
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Application No.: CN200910252224.0Application Date: 2009-11-25
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Publication No.: CN101706532APublication Date: 2010-05-12
- Inventor: 李澍森 , 肖遥 , 冯宇 , 陈晓燕 , 石延辉 , 左文霞 , 程军照
- Applicant: 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司
- Applicant Address: 湖北省武汉市洪山区珞瑜路143号
- Assignee: 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司
- Current Assignee: 国家电气设备检测与工程能效测评中心(武汉)
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市洪山区珞瑜路143号
- Agency: 武汉帅丞知识产权代理有限公司
- Agent 朱必武; 李南平
- Main IPC: G01R27/08
- IPC: G01R27/08 ; G01R23/16

Abstract:
本发明涉及一种谐波阻抗测量方法及测量装置。本发明针对谐波阻抗测量方法“增量法”中存在的主要误差源,即频率偏移及两个不同时间信号相角的同步问题,提出了“双同步增量法”,并研制了相应测试仪器;其同步之一是使参考相位与系统周期同步,以解决参考相位漂移问题;同步之二是通过硬件锁相电路,跟踪系统频率的变化,采样频率则由锁相电路产生,使采样频率与系统频率同步。谐波阻抗测量装置中包括采样频率与系统频率同步电路和相位与系统周期同步电路。本发明“双同步增量法”,解决了“增量法”中由基准参考相位及系统频率波动等引起的误差问题;装置原理简单、易于实施;本发明达到工程实用水平,解决了电力生产中的谐波阻抗测量难题。
Public/Granted literature
- CN101706532B 一种谐波阻抗测量方法及测量装置 Public/Granted day:2011-12-14
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