发明授权
- 专利标题: 具有高开口率的画素设计的布局结构
- 专利标题(英): Pixel design layout structure with high aperture
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申请号: CN200910037886.6申请日: 2009-03-13
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公开(公告)号: CN101706634B公开(公告)日: 2011-07-13
- 发明人: 戴怡文
- 申请人: 深超光电(深圳)有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市宝安区龙华镇民清路深超光电科技园A栋
- 专利权人: 深超光电(深圳)有限公司
- 当前专利权人: 深超光电(深圳)有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市宝安区龙华镇民清路深超光电科技园A栋
- 代理机构: 深圳市威世博知识产权代理事务所
- 代理商 何青瓦
- 主分类号: G02F1/1362
- IPC分类号: G02F1/1362 ; G02F1/13 ; H01L21/60
摘要:
本发明提供一种具有高开口率的画素设计的布局结构,包括一基板,第一金属层于基板上形成第一扫描线、第一晶体管的闸极及遮光面,且第一扫描线与第一晶体管的闸极连接。于第一金属层上形成第一绝缘层,非晶硅层于第一绝缘层上形成该第一晶体管的通道及第二晶体管的通道。第二金属层于非晶硅层上形成一数据线、第一晶体管的源极与汲极及第二晶体管的源极与汲极,第二绝缘层则位于第二金属层上方。导电薄膜位于第二绝缘层上以形成第一晶体管与第二晶体管画素电极。同时导电薄膜会形成于第二晶体管的源极与汲极的上方,并作为第二晶体管的闸极及第二扫描线。第二扫描线会与第一扫描在线下重叠。本发明利用上闸极结构(Top-gate)与下闸极结构(bottom-gate)两种不同的组件结构,来设计Double gate,达到维持开口率的目的。
公开/授权文献
- CN101706634A 具有高开口率的画素设计的布局结构 公开/授权日:2010-05-12
IPC分类: