- 专利标题: 一种用于无损检测灵敏度试验的表面裂纹试样制作方法
- 专利标题(英): Method for manufacturing surface crack sample for nondestructive testing sensitivity test
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申请号: CN200910250738.2申请日: 2009-12-10
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公开(公告)号: CN101710040B公开(公告)日: 2011-07-06
- 发明人: 王东升 , 任学冬 , 王树志 , 史亦韦
- 申请人: 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
- 申请人地址: 北京市81号信箱
- 专利权人: 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
- 当前专利权人: 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
- 当前专利权人地址: 北京市81号信箱
- 代理机构: 中国航空专利中心
- 代理商 李建英
- 主分类号: G01N1/28
- IPC分类号: G01N1/28 ; G01N1/32
摘要:
本发明属于无损检测技术,涉及一种用于无损检测灵敏度试验的表面裂纹试样制作方法。本发明采用疲劳加载方式制作裂纹缺陷,且操作简便;所制作疲劳裂纹缺陷尺寸小,且属典型裂纹缺陷,因此对于自然裂纹缺陷具有很好的代表性。本发明能成功获得具有自然裂纹大小缺陷的试样,试样的尺寸、形状和裂纹缺陷的走向、位置能符合多数试验要求,制作过程容易控制,其特别适用于磁粉检测中周向磁化检测灵敏度的调整和试验验证,也可推广应用于超声、涡流、渗透三个无损检测专业中表面裂纹检测灵敏度的试验研究。
公开/授权文献
- CN101710040A 一种用于无损检测灵敏度试验的表面裂纹试样制作方法 公开/授权日:2010-05-19