发明公开
- 专利标题: X射线相衬层析成像
- 专利标题(英): X ray phase contrast tomography
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申请号: CN200810224362.3申请日: 2008-10-17
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公开(公告)号: CN101726503A公开(公告)日: 2010-06-09
- 发明人: 张丽 , 黄志峰 , 陈志强 , 王振天 , 李元景 , 赵自然 , 肖永顺 , 邢宇翔
- 申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华大学
- 专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华大学
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 周红力; 刘红
- 主分类号: G01N23/083
- IPC分类号: G01N23/083 ; G01N23/04
摘要:
涉及X射线层析相衬成像系统及方法,包括:X射线装置,向被检测物体发射X射线束;光栅子系统,包括第一和第二吸收光栅,位于X射线束方向上,被检测物体折射的X射线经该第一和第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号;检测单元,接收强度变化的X射线并转换为电信号;和数据处理单元,处理并提取该电信号中折射角信息,并利用折射角信息计算出像素信息;相对移动装置,用于使得所述被检测的物体相对于所述成像系统相对地移动。在所述成像系统与被检测物体的一定相对移动范围内,在多个位置处,所述成像系统对被检测物体进行相衬成像,由此取得被检测物体的多个图像。所述多个图像经过转换变成同一个重建平面上的图像,并由此进行三维图像重建。
公开/授权文献
- CN101726503B 用于X射线相衬层析成像的系统和方法 公开/授权日:2012-08-29