发明授权
- 专利标题: 深沟槽二次刻蚀接触孔及刻蚀方法
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申请号: CN200810044011.4申请日: 2008-11-25
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公开(公告)号: CN101740468B公开(公告)日: 2011-12-14
- 发明人: 李江华 , 张朝阳 , 孙效中 , 薛浩
- 申请人: 上海华虹NEC电子有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区川桥路1188号
- 专利权人: 上海华虹NEC电子有限公司
- 当前专利权人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区川桥路1188号
- 代理机构: 上海浦一知识产权代理有限公司
- 代理商 丁纪铁
- 主分类号: H01L21/768
- IPC分类号: H01L21/768 ; H01L21/311 ; H01L23/522
摘要:
本发明公开了一种深沟槽接触孔二次刻蚀方法,包括以下步骤:1、接触孔曝光;2、第一次深槽接触孔刻蚀;3、去胶,第二次深槽接触孔刻蚀;4、形成连接层;其中,第二次深槽接触孔刻蚀的气流量为3000—4000标准立方厘米,气流速度为150—200标准立方厘米/秒。本发明还公开了一种深沟槽二次刻蚀接触孔,接触孔上面宽下面窄,且接触孔侧面表面连续,不存在断裂。本发明方法形成比较光滑的瓶塞状,解决了金属填充的断层与空洞等问题。更改金属与硅之间连接层工艺,减小器件漏电,调节出满足性能要求的器件。
公开/授权文献
- CN101740468A 深沟槽二次刻蚀接触孔及刻蚀方法 公开/授权日:2010-06-16
IPC分类: