发明授权
CN101772700B 测量细胞的物理性质值的方法和物理性质测量设备
失效 - 权利终止
- 专利标题: 测量细胞的物理性质值的方法和物理性质测量设备
- 专利标题(英): Method of measuring physical property value of cell and system for measuring physical property
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申请号: CN200880101833.X申请日: 2008-07-28
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公开(公告)号: CN101772700B公开(公告)日: 2012-05-02
- 发明人: 胜本洋一 , 林义人
- 申请人: 索尼公司
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 索尼公司
- 当前专利权人: 索尼公司
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 秦晨
- 优先权: 2007-209108 2007.08.10 JP
- 国际申请: PCT/JP2008/063500 2008.07.28
- 国际公布: WO2009/022536 JA 2009.02.19
- 进入国家日期: 2010-02-03
- 主分类号: G01N22/00
- IPC分类号: G01N22/00 ; G01N27/22 ; G01N33/48
摘要:
本发明提供测量细胞的物理性质值的方法和物理性质测量设备。首先,对作为测量对象的细胞的形状进行模拟,并且,通过数值分析获得在对细胞施加交流电场时的复数电容率响应(步骤S1)。在改变膜电容Cm和细胞质电导率κi的值的同时基于该结果进行数值计算,从而计算介电谱(步骤S2)。将这样计算的介电谱转换为介电弛豫表达式,从而获得相对电容率的增量Δε和弛豫时间τ(步骤S3)。接下来,获得(Δε,τ)对(Cm,κi)的依赖,从而产生与作为测量对象的细胞的形状相对应的回归表达式(步骤S4)。实际上测量细胞的介电谱,将所得到的时间测量的值与回归表达式相互比较,从而获得作为测量对象的细胞的膜电容Cm,exp和细胞质电导率κi,exp(步骤S5)。
公开/授权文献
- CN101772700A 测量细胞的物理性质值的方法和物理性质测量设备 公开/授权日:2010-07-07