发明公开
- 专利标题: 散射线校正方法以及散射线校正装置
- 专利标题(英): Scattered radiation correction method and scattered radiation correction apparatus
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申请号: CN200910140047.7申请日: 2009-07-10
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公开(公告)号: CN101810489A公开(公告)日: 2010-08-25
- 发明人: 邹宇 , M·D·西尔弗 , 大石悟 , 佐藤幸三
- 申请人: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社东芝,东芝医疗系统株式会社
- 当前专利权人: 东芝医疗系统株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 孙蕾
- 优先权: 12/388,947 2009.02.19 US
- 主分类号: A61B6/03
- IPC分类号: A61B6/03 ; G06T5/00 ; G01T1/161
摘要:
使用由投影图像生产成的缩小图像推定散射线,并将散射线扩大处理取得与投影图像相关的散射线分布。将取得的散射线分布从投影图像中除去执行与该投影图像相关的散射线图像。另外,在逐次近似计算与各投影方向相关的1次X射线图像以及散射线分布并计算出的情况下,将邻接的投影方向的已经鉴别完毕的散射线图像作为下个逐次近似计算中的最初推定值(初始推定值)进行利用。
公开/授权文献
- CN101810489B 散射线校正方法以及散射线校正装置 公开/授权日:2013-01-16