发明公开
- 专利标题: X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置
- 专利标题(英): Correction method and device of instrument drifts during X-ray fluorescent quantitative detection
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申请号: CN201019114089.3申请日: 2010-02-26
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公开(公告)号: CN101813646A公开(公告)日: 2010-08-25
- 发明人: 赵宇 , 周俊武 , 徐宁 , 赵建军 , 高扬 , 李传伟 , 杨树亮
- 申请人: 北京矿冶研究总院
- 申请人地址: 北京市西直门外文兴街1号北京矿冶研究总院
- 专利权人: 北京矿冶研究总院
- 当前专利权人: 北京矿冶研究总院
- 当前专利权人地址: 北京市西直门外文兴街1号北京矿冶研究总院
- 代理机构: 北京凯特来知识产权代理有限公司
- 代理商 郑立明; 赵镇勇
- 主分类号: G01N23/223
- IPC分类号: G01N23/223
摘要:
本发明公开了一种X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置,在X光管与测量样品盒之间,设置一个受仪器控制的参比机构;按待测金属元素压制成的参比样品安装在该机构上;使用X荧光分析仪测量参比样品,得到参比样的脉冲计数率作为原始目标强度值。X荧光分析仪在线运行测量时,每次测量矿浆样本之前都要测量一次参比样的计数率,并将此计数率与参比样原始目标强度的比值作为标准化系数,利用计算的标准化系数对每次测量的矿浆样本的脉冲计数率加以修正,得到在线矿浆测量的标准脉冲计数率。能够实时补偿仪器因长期或短期带来的性能指标上的漂移,提高仪器的稳定性能和测量精度指标。