Invention Publication
- Patent Title: 质量流量计及控制器以及质量流量计及控制器系统
- Patent Title (English): Mass flow meter, mass flow controller, and mass flow meter system and mass flow controller system including the same
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Application No.: CN201010135177.4Application Date: 2010-03-11
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Publication No.: CN101839737APublication Date: 2010-09-22
- Inventor: 鹿岛利弘 , 米田豊 , 矶部泰弘
- Applicant: 株式会社堀场STEC
- Applicant Address: 日本京都府京都市南区上鸟羽鉾立町11-5
- Assignee: 株式会社堀场STEC
- Current Assignee: 株式会社堀场STEC
- Current Assignee Address: 日本京都府京都市南区上鸟羽鉾立町11-5
- Agency: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- Agent 臧建明
- Priority: 2009-60319 2009.03.12 JP
- Main IPC: G01F1/76
- IPC: G01F1/76 ; G05B19/02

Abstract:
本发明提供一种优异的质量流量计等,无需特别的工时也能够灵活应对气体类型等试样流体的变更,并且可精度良好地测定流量。所述质量流量计包括:传感器部(2),对流路(1)中流动的试样流体G的流量进行侦测;设定部(4c),设定所指定的试样流体所固有的流量特性函数K和仪器误差修正参数α,流量特性函数K是按照每一流体所确定的、用以根据来自所述传感器部(2)的输出值确定流量的流量特性函数,且仪器误差修正参数α是独立于流量特性函数且为多个试样流体所共用的参数,用以对每一质量流量计的仪器误差进行修正;以及流量计算部(4d),根据流量特性函数K和仪器误差修正参数α,来计算出试样流体G的流量。
Public/Granted literature
- CN101839737B 质量流量计及控制器以及质量流量计及控制器系统 Public/Granted day:2015-05-27
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