发明授权
CN101839871B 一种X射线分层摄影检测方法与系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种X射线分层摄影检测方法与系统
- 专利标题(英): X-ray layered photography detection method and system
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申请号: CN201010181111.9申请日: 2010-05-18
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公开(公告)号: CN101839871B公开(公告)日: 2011-12-28
- 发明人: 陈忠 , 张宪民
- 申请人: 华南理工大学
- 申请人地址: 广东省广州市天河区五山路381号
- 专利权人: 华南理工大学
- 当前专利权人: 华南理工大学
- 当前专利权人地址: 广东省广州市天河区五山路381号
- 代理机构: 广州粤高专利商标代理有限公司
- 代理商 何淑珍
- 主分类号: G01N23/04
- IPC分类号: G01N23/04 ; G01N23/18
摘要:
本发明公开了一种X射线分层摄影检测方法与系统,系统包括X射线管、平面X射线探测器、载物台、控制与计算装置,载物台位于X射线管与X射线平面探测器之间,计算装置控制载物台的X轴方向、Y轴方向平动和X射线平面探测器的旋转,并处理X射线平面探测器所获得的X射线图像。检测方法是对被检物体进行递进逐行检测,每行进行旋转平移随动扫描,获得被检物体的多角度X射线成像;对所述ZX中心截面的成像进行组合叠加,以重建被检物体的截线;通过拟合得到被检物体ZX中心截面的外轮廓;根据被检测物体的检测水平截线长度和设定的判定准则,可判定轻微开焊、虚焊和其他焊点缺陷。
公开/授权文献
- CN101839871A 一种X射线分层摄影检测方法与系统 公开/授权日:2010-09-22